JEDEC曾經(jīng)是電子工業(yè)聯(lián)盟，1999年，JEDEC獨(dú)立成為行業(yè)協(xié)會(huì)，拋棄了原來名稱中縮寫的含義，目前的名稱為JEDEC固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì)。固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì)發(fā)布的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)為JESD22測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 JESD22標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱，可用于JESD22-A100標(biāo)準(zhǔn)的循環(huán)溫度-濕度-偏差與表面凝結(jié)壽命測(cè)試、JESD22-A101標(biāo)準(zhǔn)的穩(wěn)態(tài)溫度-濕度偏差壽命測(cè)試。......

半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱是一種用于模擬半導(dǎo)體元件在恒定溫度和濕度條件下進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估的設(shè)備。其作用主要對(duì)半導(dǎo)體元器件進(jìn)行濕熱存儲(chǔ)、高溫高濕試驗(yàn)，這些試驗(yàn)一般會(huì)使用到半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱。 半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱在實(shí)際應(yīng)用中，會(huì)涉及到以下標(biāo)準(zhǔn)： 1. GB/T 4937.42-2023 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第42部分：溫濕度貯存 ......

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介： 半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱是一種用于模擬半導(dǎo)體元件在恒定溫度和濕度條件下進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估的設(shè)備。它們提供精確的溫度和濕度控制，以滿足半導(dǎo)體元件在不同環(huán)境條件下的性能和可靠性要求。   二、產(chǎn)品用途： 根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，需要對(duì)半導(dǎo)體元器件進(jìn)行濕熱存儲(chǔ)、高溫高濕試驗(yàn)，這些試驗(yàn)需要用到半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱。 三、滿足標(biāo)準(zhǔn)： ......

《GB/T 4937.23-2023 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第23部分：高溫工作壽命》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)，用于評(píng)估半導(dǎo)體器件在高溫工作條件下的壽命和可靠性。該標(biāo)準(zhǔn)主要描述了高溫工作壽命試驗(yàn)的方法和要求。 一、范圍： GB/T 4937的本部分用來確定偏置條件和溫度對(duì)固態(tài)器件隨時(shí)間的影響。本部分模擬器件在加速試驗(yàn)條件下工作，主要用于......

《GB/T 4937.11-2018 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第11部分：快速溫度變化 雙液槽法》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)，用于半導(dǎo)體器件的機(jī)械和氣候試驗(yàn)。該標(biāo)準(zhǔn)主要描述了使用雙液槽法進(jìn)行快速溫度變化試驗(yàn)的方法和要求。 一、范圍： GB/T 4937的本部分規(guī)定了快速溫度變化--雙液槽法的試驗(yàn)方法。當(dāng)器件鑒定既可以采用空氣-空氣溫度循環(huán)又......

JB/T 12064-2014是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，題為"高海拔環(huán)境絕緣子覆冰（雪）人工模擬方法"（Artificial Simulation Method for Insulator Icing in High Altitude Environment）。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在高海拔環(huán)境下對(duì)絕緣子進(jìn)行人工模擬覆冰（雪）試驗(yàn)的方法和要求。 一、范圍......

GB/T 4585-2004是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，題為"交流系統(tǒng)用高壓絕緣子的人工污穢試驗(yàn)"（Artificial Polluted Test for High Voltage Insulators in AC Systems）。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在交流系統(tǒng)中使用的高壓絕緣子進(jìn)行人工污穢試驗(yàn)的方法和要求。 一、范圍： 本標(biāo)準(zhǔn)適用于系統(tǒng)最高電壓1k......

DL/T 859-2015是中國(guó)電力公司標(biāo)準(zhǔn)，題為"高壓交流系統(tǒng)用復(fù)合絕緣子人工污穢試驗(yàn)"（Artificial Polluted Test for Composite Insulators in High Voltage AC Systems）。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在高壓交流系統(tǒng)中使用的復(fù)合絕緣子進(jìn)行人工污穢試驗(yàn)的方法和要求。 一、范圍： ......

根據(jù)《GB/T 4937.42-2023 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第42部分：溫濕度貯存》標(biāo)準(zhǔn)的要求，IC晶片需要進(jìn)行溫濕度貯存試驗(yàn)。溫濕度貯存試驗(yàn)又分為濕熱試驗(yàn)和不飽和高壓蒸煮試驗(yàn)。試驗(yàn)過程中，用到哪些設(shè)備？下面我們來看看。   一、濕熱試驗(yàn)： 1. 試驗(yàn)設(shè)備：交變濕熱試驗(yàn)箱 2. 試驗(yàn)要求 a. 40℃、90%RH，持續(xù)8000h......

IC晶片高低交變濕熱試驗(yàn)箱可以為集成電路（IC）晶片進(jìn)行濕熱試驗(yàn)的設(shè)備，通過試驗(yàn)機(jī)評(píng)估IC晶片的性能和可靠性。在試驗(yàn)過程中，高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱可以提供什么樣的環(huán)境？ 以溫濕度存儲(chǔ)試驗(yàn)為例，根據(jù)《GB/T 4937.42-2023 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第42部分：溫濕度貯存》標(biāo)準(zhǔn)的要求，結(jié)合高低交變濕熱試驗(yàn)箱，可以為IC晶片的濕熱試驗(yàn)提供以下......

環(huán)儀儀器新一代IC晶片高低交變濕熱試驗(yàn)箱 ，集人性化設(shè)計(jì)理念于一身，從客戶的實(shí)際需求出發(fā)，在每一細(xì)節(jié)上盡力滿足客戶要求，為客戶提供高品質(zhì)的恒溫恒濕系列產(chǎn)品。   產(chǎn)品簡(jiǎn)介： IC晶片高低交變濕熱試驗(yàn)箱是一種專門用于對(duì)集成電路（IC）晶片進(jìn)行高低溫和濕熱環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。它能夠模擬高溫、低溫和濕熱環(huán)境下的應(yīng)力，評(píng)估IC晶片的性能和可靠性。 ......

DL/T 2389-2021是中國(guó)電力公司標(biāo)準(zhǔn)，標(biāo)題為"覆冰地區(qū)架空輸電線路絕緣子選用導(dǎo)則"（Guidelines for Insulator Selection of Overhead Transmission Lines in Iced Areas）。該標(biāo)準(zhǔn)旨在指導(dǎo)在覆冰地區(qū)設(shè)計(jì)和選擇適當(dāng)?shù)慕^緣子，以確保架空輸電線路在冰雪環(huán)境下的可靠......