《GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M：低氣壓》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，屬于《GB/T 2423 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》系列標(biāo)準(zhǔn)的第2部分，主要規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下的試驗(yàn)方法和評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)。

該標(biāo)準(zhǔn)適用于電工電子產(chǎn)品的低氣壓環(huán)境試驗(yàn)，旨在通過(guò)模擬產(chǎn)品在高海拔地區(qū)或高空航行等低氣壓環(huán)境下的使用情況，評(píng)估產(chǎn)品的適應(yīng)性和可靠性，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

一、范圍：
本部分適用于室溫條件下的低氣壓試驗(yàn)。
本試驗(yàn)的目的是用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存，運(yùn)輸或使用的適應(yīng)性。注:在高溫和低氣壓綜合或低溫和低氣壓綜合環(huán)境下貯存、運(yùn)輸或使用的產(chǎn)品，這種綜合環(huán)境對(duì)于施加于產(chǎn)品上的應(yīng)力或失效機(jī)理的影響是十分重要的，應(yīng)按下列標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn):
1.GB/T 2423.25電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法︰試驗(yàn)Z/AM;低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
2.GB/T 2423.26電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法，試驗(yàn)Z/BM;高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)

二、試驗(yàn)設(shè)備：
高低溫低氣壓試驗(yàn)箱

三、部分試驗(yàn)條件：
1. 試驗(yàn)箱(室)內(nèi)的溫度應(yīng)在規(guī)定的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)大氣條件溫度范圍內(nèi)。
當(dāng)不要求樣品在運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，樣品應(yīng)在不包裝、不通電、“準(zhǔn)備使用"狀態(tài)，按其正常位置(除非另有規(guī)定)放入試驗(yàn)箱(室)內(nèi)。

2. 將試驗(yàn)箱(室)內(nèi)的氣壓降低到符合規(guī)定嚴(yán)酷等級(jí)的值，如有需要，相關(guān)規(guī)范可規(guī)定氣壓變化速度不大于10 kPa/ min。

3. 當(dāng)要求樣品在運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，樣品應(yīng)通電或加電氣負(fù)載，應(yīng)檢查確定試驗(yàn)樣品是否能滿(mǎn)足相關(guān)規(guī)范規(guī)定的功能。試驗(yàn)樣品可按規(guī)定的持續(xù)時(shí)間保持在運(yùn)行狀態(tài)，或是按相關(guān)規(guī)范的要求斷開(kāi)電源。

根據(jù)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)要求和使用要求，對(duì)試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行評(píng)定，判斷產(chǎn)品是否符合要求。評(píng)定結(jié)果應(yīng)做好記錄，并及時(shí)反饋給產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和使用部門(mén)。

該標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)施有助于提高電工電子產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下的可靠性和適應(yīng)性，促進(jìn)電工電子產(chǎn)品行業(yè)的發(fā)展和進(jìn)步。