《GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合》是中國國家標(biāo)準(zhǔn)，主要規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在低氣壓、高溫、低溫、振動等環(huán)境下進(jìn)行綜合試驗的方法。

該標(biāo)準(zhǔn)適用于電工電子產(chǎn)品和元器件、工業(yè)產(chǎn)品和汽車、航空航天和船舶等行業(yè)的產(chǎn)品和設(shè)備，主要用于評估產(chǎn)品的可靠性和適應(yīng)性，在產(chǎn)品設(shè)計、生產(chǎn)和使用等方面具有重要的指導(dǎo)意義。

一、范圍：
GB/T2423的本部分規(guī)定了溫度(低溫、高溫)/低氣壓/報動(隨機(jī))綜合試驗的基本耍求、嚴(yán)酷等級，試驗程序以及其他技術(shù)細(xì)則。
本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度(低溫、高溫)、低氣壓和振動(隨機(jī))綜合作用下的適應(yīng)性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。

二、試驗設(shè)備：
四綜合壓試驗箱

該標(biāo)準(zhǔn)主要包括以下內(nèi)容：

1. 試驗?zāi)康模和ㄟ^模擬環(huán)境中的低氣壓、高溫、低溫和振動條件，評估產(chǎn)品的可靠性和適應(yīng)性，為產(chǎn)品設(shè)計、生產(chǎn)和使用提供依據(jù)。

2. 試驗裝置：包括試驗室、試驗設(shè)備和測量儀器等。試驗室應(yīng)符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，試驗設(shè)備應(yīng)符合產(chǎn)品規(guī)格要求，測量儀器應(yīng)準(zhǔn)確可靠。

3. 試驗條件：試驗條件包括試驗溫度、濕度、氣壓和振動等。試驗溫度、濕度、氣壓和振動應(yīng)符合產(chǎn)品規(guī)格要求和試驗要求。

4. 試驗方法：包括試驗前的準(zhǔn)備工作、試驗過程中的控制要求和試驗結(jié)束后的處理方法等。其中，振動試驗采用隨機(jī)振動方式進(jìn)行。

5. 試驗過程中的注意事項：包括試驗前的檢查、試驗中的安全措施、試驗中的異常處理和試驗結(jié)束后的處理等。

6. 試驗結(jié)果評定：對試驗結(jié)果進(jìn)行評定和分析，判斷產(chǎn)品是否符合規(guī)格要求，為產(chǎn)品的設(shè)計和改進(jìn)提供依據(jù)。

總之，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在低氣壓、高溫、低溫、振動等環(huán)境下進(jìn)行綜合試驗的方法，為評估產(chǎn)品的可靠性和適應(yīng)性提供了指導(dǎo)。