GB/T 4937.2-2006《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第2部分:低氣壓》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了半導(dǎo)體器件在低氣壓環(huán)境下進(jìn)行的機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法。

該標(biāo)準(zhǔn)分為7個(gè)部分，包括試驗(yàn)?zāi)康?、試?yàn)條件、試驗(yàn)方法、試驗(yàn)過(guò)程、試驗(yàn)后的評(píng)定、試驗(yàn)報(bào)告和試驗(yàn)注意事項(xiàng)等內(nèi)容。試驗(yàn)?zāi)康氖菫榱嗽u(píng)估半導(dǎo)體器件在低氣壓條件下的性能和可靠性。

一、范圍：
本部分適用于半導(dǎo)體器件的低氣壓試驗(yàn)。本項(xiàng)試驗(yàn)的目的是測(cè)定元器件和材料避免電擊穿失效的能力，而這種失效是由于氣壓減小時(shí)，空氣和其他絕緣材料的絕緣強(qiáng)度減弱所造成的。本項(xiàng)試驗(yàn)僅適用于工作電壓超過(guò)1 000 V的器件。
本項(xiàng)試驗(yàn)適用于所有的空封半導(dǎo)體器件。本試驗(yàn)僅適用于軍事和空間領(lǐng)域。
本項(xiàng)低氣壓試驗(yàn)方法和IEC 60068-2-13大體上一致，但鑒于半導(dǎo)體器件的特殊要求，使用本部分條款。

二、試驗(yàn)設(shè)備：
高低溫低氣壓試驗(yàn)箱

三、試驗(yàn)要求：
本試驗(yàn)所需儀器設(shè)備包括一臺(tái)真空泵、一個(gè)合適的密封室(必要時(shí),該密封室還應(yīng)具備能觀察樣品的裝置)、一臺(tái)可用于測(cè)量密封室模擬高度的氣壓表和--只能在直流到30 MHz內(nèi)檢測(cè)電流的微安表或示波器。

低氣壓試驗(yàn)是指在大氣壓力低于標(biāo)準(zhǔn)大氣壓的環(huán)境中進(jìn)行的試驗(yàn)。半導(dǎo)體器件在航空航天、高山、太空等環(huán)境中都可能遭受低氣壓的影響，因此進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)可以模擬這些特殊環(huán)境下的情況，檢驗(yàn)器件在極端條件下的性能和可靠性。

該標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)施可以提高半導(dǎo)體器件的質(zhì)量和可靠性，同時(shí)也可以保證器件在極端環(huán)境下的工作性能。