GB/T 12085.16-2010是關(guān)于光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法的標(biāo)準(zhǔn)，其中第16部分規(guī)定了彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)的方法。

該試驗(yàn)方法旨在模擬光學(xué)和光學(xué)儀器在運(yùn)輸和使用過(guò)程中遭受的沖擊、振動(dòng)、高溫、低溫等環(huán)境條件，以評(píng)估其耐久性和可靠性。試驗(yàn)中使用的彈跳或恒加速度試驗(yàn)?zāi)M產(chǎn)品在運(yùn)輸中的振動(dòng)和跌落，而高溫和低溫試驗(yàn)?zāi)M產(chǎn)品在極端溫度條件下的使用和儲(chǔ)存。

一、范圍：
本部分規(guī)定了彈跳或恒加速度與高溫或低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。
本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。
本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)，熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到彈跳或恒加速度與高溫﹑低溫影響時(shí)的變化程度。

二、試驗(yàn)設(shè)備：
穩(wěn)態(tài)加速度離心機(jī)（點(diǎn)擊查看）

三、試驗(yàn)要求（部分）：

1. 在綜合作用力條件下對(duì)暴露的試樣進(jìn)行的測(cè)試，要比任一種單一環(huán)境條件試驗(yàn)更為嚴(yán)酷。表中規(guī)定的溫度值選自GB/T 12085.2，條件試驗(yàn)方法10和11。
2. 試驗(yàn)應(yīng)符合GB/T 12085.3的要求。
3. 固定試樣的裝置應(yīng)符合GB/T 2423.43的要求，試樣夾具應(yīng)隔熱。
4. 若試樣裝在減震器上，則應(yīng)考慮減震器元件恒溫的時(shí)間。
5. 儀器用于抗彈跳(條件試驗(yàn)方法57和58)的試驗(yàn)是在帶運(yùn)輸包裝或貯存或運(yùn)輸情況下進(jìn)行。

在試驗(yàn)過(guò)程中，通過(guò)控制試驗(yàn)設(shè)備的振動(dòng)或加速度、溫度和濕度等因素，模擬光學(xué)和光學(xué)儀器在實(shí)際使用和運(yùn)輸過(guò)程中遇到的環(huán)境條件。通過(guò)對(duì)試驗(yàn)后的產(chǎn)品進(jìn)行外觀(guān)和性能的檢測(cè)和評(píng)估，來(lái)確定其是否符合相關(guān)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和要求。

GB/T 12085.16-2010標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了試驗(yàn)設(shè)備、試驗(yàn)條件、試驗(yàn)方法、試驗(yàn)過(guò)程、試驗(yàn)后的檢測(cè)和評(píng)估等方面的要求，以確保試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。