《GB/T 4937.23-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第23部分：高溫工作壽命》是中國國家標準化委員會發(fā)布的標準，用于評估半導體器件在高溫工作條件下的壽命和可靠性。該標準主要描述了高溫工作壽命試驗的方法和要求。

一、范圍：
GB/T 4937的本部分用來確定偏置條件和溫度對固態(tài)器件隨時間的影響。本部分模擬器件在加速試驗條件下工作，主要用于鑒定和可靠性檢驗。
電老煉是一種短期高溫偏置壽命試驗，用于篩查相關(guān)的早期失效。電老煉的詳細使用和應(yīng)用范疇不屬于本部分范疇。

二、試驗項目：
高溫試驗。

三、試驗設(shè)備：
高溫試驗箱。

四、設(shè)備廠商：
環(huán)儀儀器

五、試驗程序（部分）：

1. 應(yīng)力條件
應(yīng)對器件持續(xù)施加應(yīng)力條件（臨時測試除外)。實驗室升溫以達到加速壽命條件、實驗室降溫以達到室內(nèi)條件和進行臨時測試等均不能視為總指定試驗時間的一部分。

2. 環(huán)境溫度
除另有規(guī)定外，工作環(huán)境溫度和高溫應(yīng)力的偏置條件應(yīng)做調(diào)整，以維持在所需的溫度應(yīng)力范圍。本試驗條件典型值為結(jié)溫125℃，時間1000 h。除另有規(guī)定外，低溫應(yīng)力環(huán)境溫度最大為-10 ℃。

3. 工作電壓
除另有規(guī)定外，試驗的工作電壓應(yīng)是器件指定的最大規(guī)定電壓，達不到5.2.1中的條件除外。為達到加速壽命的目的，加壓和升溫具有一樣的效果，因此可以使用更高的電壓;但該電壓不能超出器件所允許的最大額定電壓，并且該電壓應(yīng)獲得器件制造商的認可。

通過高溫工作壽命試驗，可以評估半導體器件在長時間高溫工作下的性能穩(wěn)定性和可靠性，為器件的設(shè)計、制造和使用提供參考依據(jù)。試驗結(jié)果可以用于判斷器件的壽命預測、產(chǎn)品質(zhì)量控制以及可靠性改進等方面。