GB/T 10233-2016 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，標(biāo)題為《低壓成套開(kāi)關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備基本試驗(yàn)方法》（Low-voltage switchgear and controlgear assemblies - Methods for basic testing under normal and fault conditions）。

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低壓成套開(kāi)關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備在正常工作和故障條件下進(jìn)行基本試驗(yàn)的方法，用于評(píng)估其性能和可靠性。

一、范圍：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低壓成套開(kāi)關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備(以下簡(jiǎn)稱成套設(shè)備)型式試驗(yàn)和出廠試驗(yàn)的基本方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于GB 7251.1-2013和GB/T 3797所規(guī)定的試驗(yàn)項(xiàng)目。

二、試驗(yàn)項(xiàng)目：
耐腐蝕試驗(yàn)、耐紫外線（UV）輻射試驗(yàn)、碰撞試驗(yàn)、高低溫試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、高低溫沖擊試驗(yàn)、等。

三、試驗(yàn)設(shè)備：
恒溫恒濕試驗(yàn)箱、鹽霧試驗(yàn)箱、氙燈老化試驗(yàn)箱、高低溫沖擊試驗(yàn)箱、碰撞試驗(yàn)臺(tái)等。

四、設(shè)備廠商：
環(huán)儀儀器

五、試驗(yàn)程序（部分）：

高、低溫沖擊試驗(yàn)

高﹑低溫沖擊試驗(yàn)的目的是考核控制單元的儲(chǔ)存、運(yùn)輸及使用過(guò)程中受空氣溫度迅速變化的能力，同時(shí)考核印制板組裝件的焊接質(zhì)量及對(duì)早期失效的元、器件進(jìn)行篩選。

試驗(yàn)時(shí)設(shè)備應(yīng)在沒(méi)有包裝及不工作狀態(tài)下進(jìn)行。

設(shè)備先置于溫度為TL，的低溫箱中存放到規(guī)定時(shí)間t1，然后取出置于試驗(yàn)室內(nèi)的環(huán)境溫度下保持時(shí)間為t2，再放入到溫度為TH的高溫箱中存放到規(guī)定時(shí)間t3，再取出置于試驗(yàn)室環(huán)境溫度下保持時(shí)間t2。此即為一次循環(huán)(見(jiàn)圖4)。循環(huán)次數(shù)應(yīng)不小于5次。

溫度TL、TH，及時(shí)間t1，t3取決于設(shè)備的熱容量及對(duì)產(chǎn)品要求考核的嚴(yán)酷程度，應(yīng)在有關(guān)產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)中加以規(guī)定。若無(wú)特殊需要，一般應(yīng)不低于本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。

TL=-40 ℃

TH=+60 ℃

t1=t3不小于30 min

t2不小于2 min，不大于 3 min。對(duì)于自動(dòng)兩箱設(shè)備， t2可以小于30 s，而且不需放在試驗(yàn)室溫度下。

試驗(yàn)時(shí)溫度允許偏差范圍應(yīng)在±3 ℃之內(nèi)。

試驗(yàn)溫箱的容積及其空氣循環(huán)應(yīng)使設(shè)備放入后，在5 min或存放時(shí)間的10%內(nèi)(兩者取其中較小者的數(shù)值)，其溫度應(yīng)保持在規(guī)定允差之內(nèi)。

經(jīng)過(guò)高﹑低溫沖擊試驗(yàn)后，待設(shè)備恢復(fù)到試驗(yàn)室環(huán)境溫度后進(jìn)行外觀檢查及測(cè)試其電氣性能，應(yīng)符合所規(guī)定要求。

通過(guò)遵循 GB/T 10233-2016 標(biāo)準(zhǔn)，可以對(duì)低壓成套開(kāi)關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備進(jìn)行基本試驗(yàn)，以驗(yàn)證其在正常工作和故障情況下的性能和可靠性，確保其安全運(yùn)行和符合技術(shù)要求。同時(shí)，該標(biāo)準(zhǔn)還為制造商、設(shè)計(jì)人員和使用者提供了基本試驗(yàn)的方法和指導(dǎo)，以保障低壓電氣設(shè)備在使用過(guò)程中的安全性和穩(wěn)定性。