《GB/T 12085.11-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第11部分：長霉》是中國國家標準，屬于光學和光子學領域。該標準規(guī)定了在實驗室條件下進行光學和光子學設備的環(huán)境試驗，特別是針對長霉環(huán)境的試驗方法。

一、范圍：
本文件描述了光學和光子學長霉試驗的環(huán)境試驗方法。

本文件適用于光學和光子學儀器，包括來自其他領域的組件(如機械、化學和電子設備)的長霉試驗。

本文件不適用于常規(guī)生產(chǎn)檢查。

二、試驗項目：
長霉試驗。

三、試驗設備：
霉菌試驗箱。

四、設備廠商：
環(huán)儀儀器

五、試驗程序（部分）：

預處理

除相關規(guī)范另有規(guī)定外,試樣應用4.2.2所述的無菌蒸餾水洗凈并掛起來晾干，清洗后不應在試樣上留有任何清洗材料的殘屑（如布頭或棉紗等)，處置試樣時不得在試樣上留下手指印或其他任何方式的污染。可在暴露前直接將潤滑劑涂到試樣上(見4.4)。

然后,用噴霧器將混合孢子懸浮液(4.2.3)噴射到試樣和對照條(見4.3)上進行接種，要確保試樣表面的孢子數(shù)達到每平方厘米范圍內有15 000±3 000個，并且均勻分布。

試樣和對照條應在接種后15 min內放入培養(yǎng)箱或氣候室內培育，試樣箱應在試樣開始培育前根據(jù)氣候條件運轉不少于4 h。

如果試驗的目的不僅要求評價長霉的結果,而且要求評價長霉可能造成的腐蝕和測量儀器的性能，則應同時用一組與試樣數(shù)量相等，類型相同的不接種孢子的試樣放在另一個氣候條件完全相同的培養(yǎng)箱或氣候室里暴露，以區(qū)分造成試樣損害的原因。霉菌及殺菌劑的選用參見附錄A。

條件試驗期間的活力

按照第4章規(guī)定的條件試驗至第7d，檢查對照條和皮氏培養(yǎng)皿。如果所有對照條和(或)皮氏培養(yǎng)皿上都不長霉或長得很少，則試驗無效，應重新進行試驗。
試驗期間,每7 d打開一次培養(yǎng)箱或氣候室的門，持續(xù)幾秒鐘，以更新空氣，暴露結束時，對照條上的霉菌應比試驗至第7 d時長得更茂盛，否則試驗無效，應重新進行試驗。

該標準的主要目的是評估光學和光子學設備在潮濕和長時間暴露于霉菌環(huán)境下的性能和可靠性。霉菌生長和蔓延可能對一些光學設備產(chǎn)生不利影響，因此需要測試其對霉菌的抗性。通過進行長霉環(huán)境試驗，可以確定設備的抗霉菌性能，以確保其在實際應用中不受霉菌侵害，保持正常工作。這對于一些需要長時間使用的光學設備非常重要，如顯微鏡、望遠鏡、光學鏡頭等。