《GB/T 12085.23-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第23部分：低壓與低溫、大氣溫度、高溫或濕熱》是中國國家標準，屬于光學和光子學領域。該標準規(guī)定了一種綜合環(huán)境試驗方法，用于評估光學和光子學設備在低壓、低溫、大氣溫度、高溫或濕熱等復雜環(huán)境條件下的性能。

一、范圍：
本文件描述了低壓與低溫、大氣溫度﹑高溫或濕熱綜合試驗的環(huán)境試驗方法。

本文件適用于光學和光子學儀器以及來自其他領域附屬組件(如機械、化學和電子設備)的低壓與低溫、大氣溫度﹑高溫或濕熱綜合試驗。

二、試驗項目：
溫度濕度低氣壓綜合試驗。

三、試驗設備：
高低溫低氣壓試驗箱（室）。

四、設備廠商：
環(huán)儀儀器

五、試驗程序（部分）：

為了達到試驗溫度﹐應在壓力降低之前開始制冷。在調(diào)整氣壓之前，試樣應達到規(guī)定的測試溫度。在恒定的試驗箱(室)溫度下，熱有效試樣應受試驗溫度的影響，直至試樣的溫度變化不超過1K/h，然后開始降壓。在此過程中，允許試樣內(nèi)部發(fā)熱。

當試樣各部分達到試驗箱(室)溫差3K以內(nèi)，且達到規(guī)定壓力時，即開始條件試驗周期。
條件試驗完成后,按相關規(guī)范規(guī)定，在壓力上升期間，試樣上應形成凝露或結(jié)霜。有兩種方法可以在試樣上形成凝露或結(jié)霜。

以下兩種方法中的一種應在相關規(guī)范中規(guī)定。

a）低壓條件下產(chǎn)生結(jié)霜

在溫度為-20 ℃~-10 ℃范圍內(nèi)和低壓為40 kPa的范圍內(nèi)加熱過程中，水蒸氣充滿了試驗箱(室)。

b)標準條件下產(chǎn)生結(jié)霜

在加熱期間,試驗箱(室)內(nèi)的壓力調(diào)整到標準壓力，同時溫度保持在-20 ℃~-10 ℃。

由于溫度低，水分在試樣上凍結(jié)和凝結(jié)。在終試期間，當存在結(jié)霜時，不準許試樣產(chǎn)生內(nèi)在熱，以防止試樣干燥。

在試驗箱(室)內(nèi)和試樣上都應測量溫度。溫度傳感器在試樣上的位置應在相關規(guī)范中規(guī)定。

測試報告中應注明用于測量箱(室)內(nèi)空氣溫度的溫度傳感器的位置。

綜合環(huán)境試驗是為了模擬光學和光子學設備在實際使用中可能遇到的多種極端環(huán)境條件，包括低溫、低壓、高溫、濕熱等。這些試驗有助于評估設備在這些條件下的性能和可靠性，以確保其在實際應用中能夠正常工作。這對于需要在各種環(huán)境條件下使用的光學和光子學設備非常重要，如衛(wèi)星通信設備、激光測量儀器、航天器載荷等。通過進行綜合環(huán)境試驗，可以確定設備的耐受性，以減少在實際使用中的故障風險。