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常見問題
抽拉式硬盤RDT高溫測(cè)試箱的使用方法
隨著科技的快速發(fā)展,固態(tài)硬盤(SSD)在各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛。為了確保SSD在高溫、惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn),抽拉式硬盤RDT高溫測(cè)試箱應(yīng)運(yùn)而生。而抽拉式硬盤RDT高溫測(cè)試箱作為一種專業(yè)的測(cè)試設(shè)備,其使用方法顯得尤為關(guān)鍵。下面,教大家如何使用該設(shè)備。
環(huán)儀儀器 抽拉式硬盤RDT高溫測(cè)試箱使用方法:
步驟一:準(zhǔn)備工作
將硬盤分別放置在放置架的放置板表面。接入穩(wěn)定電壓。
啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)電機(jī),帶動(dòng)收線輪轉(zhuǎn)動(dòng),拉松拉繩,重力作用下,密封保溫罩沿升降架表面的滑動(dòng)槽向下拉動(dòng),密封保溫罩抵接在擠壓棉的表面,形成密封空間。
啟動(dòng)老化柜本體內(nèi)的加熱組件,進(jìn)行加熱。
步驟二:測(cè)試過程
通過傳動(dòng)箱帶動(dòng)傳動(dòng)齒輪轉(zhuǎn)動(dòng),使放置架轉(zhuǎn)動(dòng)180度,將放置了硬盤一側(cè)的放置板轉(zhuǎn)動(dòng)到老化柜本體內(nèi)部。啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)氣缸,帶動(dòng)密封板伸出,抵接在老化柜本體和密封保溫罩之間的縫隙內(nèi),進(jìn)行密封。
啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)將密封保溫罩升起,在未放置的放置板上放置好硬盤。硬盤測(cè)試完畢后,關(guān)閉密封保溫罩,收回密封板。
啟動(dòng)傳動(dòng)箱將放置架翻轉(zhuǎn),將測(cè)試完畢的硬盤轉(zhuǎn)到表面。
打開密封保溫罩,將其取下,放置未測(cè)試的硬盤。
步驟三:循環(huán)測(cè)試
重復(fù)上述步驟,循環(huán)進(jìn)行測(cè)試。
持續(xù)監(jiān)控測(cè)試過程中的溫度和其他參數(shù),確保老化柜的正常運(yùn)行。
根據(jù)測(cè)試需求,適時(shí)調(diào)整老化時(shí)間和溫度等參數(shù)。
抽拉式硬盤RDT高溫測(cè)試箱是一款定制設(shè)備,根據(jù)不同用戶的測(cè)試要求不同,在使用過程也會(huì)有所差異。
[上一篇: 抽取式SSD高溫RDT老化柜的技術(shù)優(yōu)勢(shì)] [下一篇: 《GB/T 29365-2012 塑木復(fù)合材料 人工氣候老化試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)]
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