固態(tài)硬盤的BIT測試需要用到BIT老化柜，固態(tài)硬盤如何在BIT老化柜里面做測試？下面是市面上主流固態(tài)硬盤廠商常用的試驗方法，下面我們來看看。

固態(tài)硬盤BIT測試流程：

試驗設備：環(huán)儀儀器 固態(tài)PCIE通道BIT老化柜

試驗產(chǎn)品：固態(tài)硬盤

主要流程：

1. BIT測試

首先，在BIT測試中，通過軟件設置每次寫入磁盤的15%，負荷最大1000，測試時間為72小時。BIT測試結(jié)果顯示“PASSED”，即通過了測試。這一步驟主要檢測固態(tài)硬盤在正常工作負荷下是否能夠正常運行，并保持性能穩(wěn)定。

2. 高溫老化

接著，將通過BIT測試的固態(tài)硬盤樣品放入老化柜中，設置溫度為100℃，進行高溫老化測試，靜置3小時。這一步驟旨在模擬硬盤在高溫環(huán)境下的工作狀態(tài)，檢測其在極端條件下的表現(xiàn)，確保硬盤在高溫環(huán)境中不會出現(xiàn)性能問題。

3. 壞塊檢測

完成高溫老化后，使用HD Tune Pro進行壞塊檢測。結(jié)果顯示全綠，說明在持續(xù)寫入72小時及3小時高溫環(huán)境中并沒有導致固態(tài)硬盤產(chǎn)生壞塊。壞塊檢測是為了確保硬盤在老化測試過程中，存儲單元沒有受到破壞，仍然能夠正常讀寫數(shù)據(jù)。

4. 無故障使用時間計算

根據(jù)測試數(shù)據(jù)，可以計算出固態(tài)硬盤大概的無故障使用時間。這一步驟是為了預估硬盤在正常使用情況下的壽命，為用戶提供更為可靠的使用體驗。

例如：在BIT測試中共進行了591次循環(huán)，按照其931.5GB的實際可用容量，此次測試共寫入82577GB數(shù)據(jù)，若按一個普通辦公用戶10GB/天的寫入量計算，相當于可以使用22年而不出錯。